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日本理学ZSX Primus III+ 波长色散X射线荧光光谱仪

型号:ZSX Primus III+
X射线管位于分析样品上方,最大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。

产品描述

X射线管位于分析样品上方,最大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。
可在慢速和快速直接切换抽真空和卸真空速率,使粉末和金属样品的样品处理量达到最佳。



特点
  • 实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析

  • 高精度定位样品台满足合金分析高精度要求

  • 特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差

  • 样品室可简单移出方便清洁

  • 操作界面简洁、自动化程度高


ZSX Primus III +

Rigaku ZSX Primus III +在各种样品类型中快速定量测定从铍(Be)到铀(U)的主要和次要原子元素。

高于光学元件的管道,可靠性更高

ZSX Primus III +具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。

高精度样品定位

样品的高精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定。这对于要求高精度的应用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用独特的光学配置进行高精度分析,旨在最大限度地减少样品中非平坦表面引起的误差,如熔融珠和压制颗粒

使用EZ-scan软件的SQX基本参数

EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下分析未知样品。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件,它可以提供最准确,最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应,包括线重叠。SQX还可以校正光电子(光和超轻元素),不同气氛,杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序可以提高准确度。


特征

  • 元素从Be到U的分析

  • 管道上方的光学器件使污染问题最小化

  • 占地面积小,使用的实验室空间有限

  • 高精度样品定位

  • 特殊光学元件可减少曲面样品表面造成的误差

  • 统计过程控制软件工具(SPC)

  • 吞吐量可以优化疏散和真空泄漏率


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